E5070B Agilent E5070B 網(wǎng)絡(luò)分析儀 Agilent E5070B 網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了Z快、Z較精確的射頻器件測量能力。其xian進的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,進一步提高了測試吞吐率。 300
E5070B Agilent E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀
Agilent E5070B網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了Z快、Z較精確的射頻器件測量能力。其xian進的體系結(jié)構(gòu)通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量,進一步提高了測試吞吐率。?
300 kHz 至 3GHz?
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)?
掃描速度:9.6微秒/點?
跡線噪聲:0.001 dB rms?
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力?
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換?
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式?
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications(VBA)?
測量向?qū)е周浖?/span>
主要技術(shù)指標(biāo)
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?br style="box-sizing: border-box; padding: 0px; margin: 0px;">要技術(shù)指標(biāo)
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic? for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?br style="box-sizing: border-box; padding: 0px; margin: 0px;">要技術(shù)指標(biāo)
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ? for Applications(VBA)
測量向?qū)е周浖?/span>
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